OPTIMAL TEST POINT SELECTION FOR SEQUENTIAL MANUFACTURING PROCESSES

被引：12

作者：

GAREY, MR

机构：

来源：

BELL SYSTEM TECHNICAL JOURNAL | 1972年 / 51卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/j.1538-7305.1972.tb01914.x

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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共 3 条

[1] Bellman R.E, 1957, DYNAMIC PROGRAMMING
[2] ELLINGTON TS, 1971, WESTERN ELECTR ENG, V15, P25
[3] GAREY MR, TO BE PUBLISHED