VERIFICATION OF SENSITIVITY ENHANCEMENT FACTORS FOR CW ULTRASONIC RESONATORS

被引：3

作者：

HEYMAN, JS

MILLER, JG

机构：

[1] NASA,LANGLEY RES CTR,HAMPTON,VA 23365

[2] WASHINGTON UNIV,ARTHUR HOLLY COMPTON LAB,ST LOUIS,MO 63130

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1662773

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：3398 / 3400

页数：3

共 5 条

[1]

BOLEF DI, 1971, PHYSICAL ACOUSTICS, V8

[2] ELASTIC WAVE PROPAGATION IN PIEZOELECTRIC SEMICONDUCTORS [J].

HUTSON, AR ;

WHITE, DL .

[3] CW MICROWAVE SPECTROMETER FOR ULTRASONIC PARAMAGNETIC RESONANCE [J].

LEISURE, RG ;

BOLEF, DI .

MILLER, JG ;

BOLEF, DI .

MILLER, JG ;

BOLEF, DI .