USE OF SPOT-SCAN PROCEDURE FOR RECORDING LOW-DOSE MICROGRAPHS OF BEAM-SENSITIVE SPECIMENS

被引:83
作者
BULLOUGH, P
HENDERSON, R
机构
关键词
D O I
10.1016/0304-3991(87)90147-1
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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页数:7
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