Electron microscope studies of thoriated tungsten

被引：21

作者：

Ahearn, AJ ^{[1
]}

Becker, JA ^{[1
]}

机构：

[1] Bell Tel Labs, New York, NY USA

来源：

PHYSICAL REVIEW | 1938年 / 54卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRev.54.448

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：448 / 458

页数：11

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共 15 条

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