A NEW METHOD OF DETERMINING STRUCTURE FACTORS OF X-RAYS USING HALF-VALUE WIDTHS OF DIFFRACTION CURVES FROM PERFECT CRYSTALS

被引:15
作者
KIKUTA, S
MATSUSHITA, T
KOHRA, K
机构
关键词
D O I
10.1016/0375-9601(70)90702-4
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
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