PHOTON-INDUCED FIELD-IONIZATION MASS-SPECTROSCOPY

被引：35

作者：

DRACHSEL, W

NISHIGAKI, S

BLOCK, JH

机构：

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES | 1980年 / 32卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/0020-7381(80)80017-9

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学]; O56 [分子物理学、原子物理学];

学科分类号：

070203 ; 070304 ; 081704 ; 1406 ;

摘要：

引用

页码：333 / 343

页数：11

共 12 条

[1]

ABEND G, 1977, THESIS FREIE U BERLI

[2]

ABEND G, 1977, 24TH INT FIELD EM S

[3]

Beckey H. D., 1977, PRINCIPLES FIELD ION

[4] ATOM-PROBE FIELD ION MICROSCOPE [J].

MULLER, EW ;

PANITZ, JA ;

MCLANE, SB .

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1968, 39 (01) :83-&

[5]

MULLER EW, 1969, FIELD ION MICROSCOPY, P276

[6]

NISHIGAKI S, UNPUBLISHED

[7] NOTES ON PHOTON ASSISTED FIELD-IONIZATION [J].

NIU, BHC ;

BRYANT, PJ .

JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 1979, 70 (05) :2584-2585

[8] PHOTON ASSISTED FIELD-IONIZATION [J].

NIU, BHC ;

BEACHAM, JR ;

BRYANT, PJ .

JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 1977, 67 (05) :2039-2042

[9]

Poschenrieder W. P., 1972, International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics, V9, P357, DOI 10.1016/0020-7381(72)80020-2

[10] FIELD-IONIZATION WITHING FORBIDDEN ZONE [J].

SAKURAI, T ;

MULLER, EW .

SURFACE SCIENCE, 1975, 49 (02) :497-507

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