STATISTICS OF THE CHARGE DISTRIBUTION FOR A LOCALIZED FLAW IN A SEMICONDUCTOR

被引:190
作者
SHOCKLEY, W
LAST, JT
机构
来源
PHYSICAL REVIEW | 1957年 / 107卷 / 02期
关键词
D O I
10.1103/PhysRev.107.392
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
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页码:392 / 396
页数:5
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