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APPLICATION OF ROUTH CRITERION TO TEST FOR POSITIVE REAL FUNCTIONS
被引:2
作者
:
YEUNG, KS
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
YEUNG, KS
机构
:
来源
:
ELECTRONICS LETTERS
|
1981年
/ 17卷
/ 11期
关键词
:
D O I
:
10.1049/el:19810263
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:375 / 376
页数:2
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