共 2 条
- [1] LEURGANS P, 1947, J OPT SOC AM, V37, P983
- [2] REFLECTION FROM A MULTILAYER FILTER[J]. JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA, 1949, 39 (12) : 1038 - 1043POLSTER, HD
A METHOD FOR MEASURING EXTREMELY SMALL NON-UNIFORMITIES IN THE OPTICAL THICKNESS OF EVAPORATED FILMS
被引：10
作者：
GEE, AE
POLSTER, HD
机构：
关键词：
D O I：
10.1364/JOSA.39.001044
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
引用
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页数：4
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