IMAGE-SHEARING SPECKLE-PATTERN INTERFEROMETER FOR MEASURING BENDING MOMENTS

被引：256

作者：

LEENDERT.JA ^{[1
]}

BUTTERS, JN ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV TECHNOL LOUGHBOROUGH, DEPT MECH ENGN, LOUGHBOROUGH, LEICESTERSHIRE, ENGLAND

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1973年 / 6卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/6/11/019

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1107 / 1110

页数：4

共 5 条

[1]

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[2]

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