AUTOMATIC TEST GENERATION SYSTEM FOR ILIAC IV LOGIC BOARDS

被引：16

作者：

AGRAWAL, VD

AGRAWAL, P

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS | 1972年 / C 21卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1109/TC.1972.5009081

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：1015 / &

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共 4 条

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