共 2 条
- [1] BARRETT SR, 1943, STRUCTURE METALS
- [2] Short N.R., 1968, BRIT J APPL PHYS, V1, P129
INTERPRETATION OF X-RAY-DIFFRACTION DATA FROM THIN EPITAXIAL LEAD-TIN TELLURIDE CRYSTALS .1.
被引：8
作者：
BICKNELL, RW
[1
]
机构：
[1] PLESSEY CO LTD,ALLEN CLARK RES CTR,TOWCESTER,NORTHAMPTONSHIR,ENGLAND
来源：
INFRARED PHYSICS
|
1977年
/
17卷
/
01期
关键词：
D O I：
10.1016/0020-0891(77)90095-1
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ;
0803 ;
摘要：
引用
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页数：6
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