A SENSITIVE DOUBLE BEAM LASER INTERFEROMETER FOR STUDYING HIGH-FREQUENCY PIEZOELECTRIC AND ELECTROSTRICTIVE STRAINS

被引：89

作者：

PAN, WY

CROSS, LE

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1140644

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：2701 / 2705

页数：5

共 5 条

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