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DIFFERENTIAL MEASUREMENTS OF THE LATERAL PHOTOEFFECT IN GAAS/AIGAAS HETEROSTRUCTURES
被引:7
作者
:
FONTEIN, PF
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FONTEIN, PF
HENDRIKS, P
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HENDRIKS, P
WOLTER, JH
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WOLTER, JH
KUCERNAK, A
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KUCERNAK, A
PEAT, R
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PEAT, R
WILLIAMS, DE
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WILLIAMS, DE
机构
:
来源
:
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
|
1989年
/ 4卷
/ 10期
关键词
:
D O I
:
10.1088/0268-1242/4/10/001
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:837 / 840
页数:4
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