CONSEQUENCES OF USING BISPHERICAL ELECTRODE SYSTEM FOR DIELECTRIC TESTING

被引：1

作者：

BRIGNELL, JE

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1049/el:19680363

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：465 / &

共 7 条

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BRIGNELL, JE .

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