A NEW APPROACH TO MEASURE ION REFLECTION AND SECONDARY ION EMISSION DURING ION BOMBARDMENT OF ATOMICALLY CLEAN AND SMOOTH MONOCRYSTALLINE METAL SURFACES

被引：8

作者：

SUURMEIJER, EP

BOERS, AL

BEGEMANN, SH

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0039-6028(70)90194-9

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：424 / +

页数：1

共 7 条

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