THICKNESS OF THIN SURFACE-FILMS DETERMINED BY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY

被引：27

作者：

LEWIS, G ^{[1
]}

FOX, PG ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV NOTTINGHAM,DEPT MET & MAT SCI,NOTTINGHAM NG7 2RD,ENGLAND

来源：

CORROSION SCIENCE | 1978年 / 18卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1016/0010-938X(78)90057-4

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：645 / 650

页数：6

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