CRYSTALLINE STRUCTURE OF GERMANIUM FILMS ON SILICON SUBSTRATES .1. INVESTIGATION OF PERFECTION OF GERMANIUM HETEROEPITAXIAL FILMS ON SILICON BY X-RAY DIFFRACTION METHODS

被引：13

作者：

DATSENKO, LI

GUREEV, AN

KOROTKEVICH, NF

SOLDATENKO, NN

TKHORIK, YA

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(71)90030-7

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：117 / +

页数：1

共 6 条

COLE, H ;

STEMPLE, NR .

DATSENKO, LI ;

SKOROKHO.MY ;

VASILKOV.AS .

PHYSICA STATUS SOLIDI, 1968, 30 (01) :231-&

[3]

EFIMOV O, 1968, FIZ TVERD TELA, V10, P2234

[4] INTEGRAL CHARACTERISTICS OF ANOMALOUS TRANSMISSION OF X-RAYS [J].

EFIMOV, ON ;

KOVEV, EK .

PHYSICA STATUS SOLIDI, 1966, 17 (01) :397-&

[5]

Zakharov BG., 1966, KRISTALLOGRAFIYA, V11, P227

[6]

1965, SPRAVOCHNIK REDKIM M, P338