DETECTION OF FATIGUE DAMAGE BY EXOELECTRON EMISSION

被引：32

作者：

BAXTER, WJ ^{[1
]}

机构：

[1] GM CORP,RES LABS,WARREN,MI 48090

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1662232

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：608 / 614

页数：7

共 8 条

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