GROWTH AND STRUCTURAL-PROPERTIES OF LOW DEFECT, SUB-GRAIN FREE CDTE SUBSTRATES GROWN BY THE HORIZONTAL BRIDGMAN TECHNIQUE

被引：23

作者：

KHAN, AA

ALLRED, WP

DEAN, B

HOOPER, S

HAWKEY, JE

JOHNSON, CJ

机构：

[1] GALTECH INC,MT PLEASANT,UT 84647

[2] TWO SIX INC,SAXONBURG,PA 16506

来源：

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS | 1986年 / 15卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1007/BF02655334

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：181 / 184

页数：4

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共 5 条

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