FREE-SPACE FOCUSED MICROWAVE SYSTEM TO DETERMINE COMPLEX PERMITTIVITY OF MATERIALS TO TEMPERATURES EXCEEDING 2000 DEGREES C

被引：16

作者：

BASSETT, HL

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1685045

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：200 / &

共 8 条

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