COMPUTATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE CURRENT CHARACTERISTICS BY FINITE-DIFFERENCE METHODS

被引:12
作者
MOCK, MS
机构
[1] NYU,COURANT INST MATH SCI,BRONX,NY 10453
[2] IBM CORP,E FISHKILL LAB,SYST PROD DIV,HOPEWELL JUNCTION,NY 12533
关键词
D O I
10.1007/BF01535281
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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页数:13
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