DELAYED COINCIDENCE MEASUREMENT OF PICOSECONDS LIFETIME OF 9.699 MEV (5-) LEVEL OF SI-28

被引:3
作者
BARTON, RD
CARTER, AL
WADDEN, JS
PAI, HL
机构
关键词
D O I
10.1139/p72-175
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
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页码:1282 / &
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