SILICON VIDICON SYSTEM FOR MEASURING LASER INTENSITY PROFILES

被引：16

作者：

SMITH, WL

DEGROOT, AJ

WEBER, MJ

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1978年 / 17卷 / 24期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.17.003938

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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页码：3938 / 3944

页数：7

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共 5 条

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