CRITIQUE OF A RECENT THIN-FILM FIELD-EFFECT EXPERIMENT USING DETACHED ELECTRODES

被引：5

作者：

SINCLAIR, WR

MURR, LE

机构：

[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974

[2] NEW MEXICO INST MIN & TECHNOL,DEPT MET & MAT ENGN,SOCORRO,NM 87801

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1655213

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：354 / 355

页数：2

共 6 条

[1] THE CONCENTRATION AND MOBILITY OF VACANCIES IN SODIUM CHLORIDE [J].

ETZEL, HW ;

MAURER, RJ .

[2]

HIPPEL ARV, 1959, MOLECULAR SCIENCE MO

KENNEDY, DI ;

HAYES, RE ;

ALSFORD, RW .

[4]

Lidiard A B, 1957, HDB PHYSIK, VXX, P246

[5] SIGNIFICANCE OF ELECTRIC-FIELDS ON GROWTH OF THIN METAL-FILMS [J].

MURR, LE ;

SINGH, HP .

[6]

WHITEHEAD JB, 1927, LECTURES DIELECTRIC