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OPTO-ELECTRONIC CHARACTERISTICS OF CHEMICALLY DEPOSITED CADMIUM-SULFIDE THIN-FILMS
被引:88
作者
:
NAIR, PK
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0
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0
h-index:
0
机构:
Univ Nacional Autonoma de Mexico, Morelos, Mex, Univ Nacional Autonoma de Mexico, Morelos, Mex
NAIR, PK
CAMPOS, J
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机构:
Univ Nacional Autonoma de Mexico, Morelos, Mex, Univ Nacional Autonoma de Mexico, Morelos, Mex
CAMPOS, J
NAIR, MTS
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0
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0
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0
机构:
Univ Nacional Autonoma de Mexico, Morelos, Mex, Univ Nacional Autonoma de Mexico, Morelos, Mex
NAIR, MTS
机构
:
[1]
Univ Nacional Autonoma de Mexico, Morelos, Mex, Univ Nacional Autonoma de Mexico, Morelos, Mex
来源
:
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
|
1988年
/ 3卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1088/0268-1242/3/2/010
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
48
引用
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页码:134 / 145
页数:12
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