USE OF HALF-CELL BARRIERS TO ELIMINATE JUNCTION CLOGGING AND THERMAL HYSTERESIS IN SILVER SILVER-CHLORIDE REFERENCE ELECTRODES

被引:23
作者
BREZINSKI, DP [1 ]
机构
[1] CORNING GLASS WORKS,DIV RES & DEV,CORNING,NY 14831
关键词
D O I
10.1016/S0003-2670(01)84195-7
中图分类号
O65 [分析化学];
学科分类号
070302 ; 081704 ;
摘要
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页数:16
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