SETTING TEST INTERVALS AND ALLOWABLE BYPASS TIMES AS A FUNCTION OF PROTECTION SYSTEM GOALS

被引：10

作者：

HIRSCH, HM

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1971年 / NS18卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1971.4325914

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：488 / &

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共 2 条

[1]

1968, IEEE279

[2]

1970, GUIDE RELIABILITY AN