AN ELECTRON BEAM METHOD OF MEASURING DIFFUSION VOLTAGE IN SEMICONDUCTORS

被引：9

作者：

MUNAKATA, C

机构：

来源：

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1967年 / 6卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1143/JJAP.6.274

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：274 / &

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共 3 条

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