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The use of X-rays for determining the orientation of quartz crystals
被引:5
作者
:
Bond, WL
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引用数:
0
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0
Bond, WL
Armstrong, EJ
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Armstrong, EJ
机构
:
来源
:
BELL SYSTEM TECHNICAL JOURNAL
|
1943年
/ 22卷
关键词
:
D O I
:
10.1002/j.1538-7305.1943.tb00445.x
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:293 / 337
页数:45
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共 5 条
[1]
BOND WL, BELL SYS TECH J, V22
[2]
COMPTON AH, 1935, XRAYS THEORY EXPT, P340
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Sosman R. B., 1927, PROPERTIES SILICA
[4]
WYCKOFF WC, 1931, STRUCTURE CRYSTALS
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