WAFER-SCALE INTEGRATION - FAULT-TOLERANT PROCEDURE

被引：45

作者：

AUBUSSON, RC ^{[1
]}

CATT, I ^{[1
]}

机构：

[1] CAM LTD,ST ALBANS,HERTFORDSHIRE,ENGLAND

来源：

IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS | 1978年 / 13卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/JSSC.1978.1051050

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：339 / 344

页数：6

相关论文

共 6 条

[1] AUBUSSON RC, 1977, 3 EUR SOL STAT CIR C, P76
[2] CATT I, 1974, Patent No. 1377859
[3] ELMER BR, 1977, FEB P IEEE INT SOL S, P116
[4] GLEDHILL RJ, COMMUNICATION
[5] MANNING FB, 1977, IEEE T COMPUT, V26, P536, DOI 10.1109/TC.1977.1674879
[6] CURRENT STATUS OF LARGE SCALE INTEGRATION TECHNOLOGY
PETRITZ, RL
[J]. IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS, 1967, SC 2 (04) : 130 - &