REFRACTORY OXIDE-METAL COMPOSITES . SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY DIFFRACTION OF URANIUM DIOXIDE-TUNGSTEN

被引：6

作者：

GERDES, RJ

CHAPMAN, AT

CLARK, GW

机构：

来源：

SCIENCE | 1970年 / 167卷 / 3920期

关键词：

D O I：

10.1126/science.167.3920.979

中图分类号：

O [数理科学和化学]; P [天文学、地球科学]; Q [生物科学]; N [自然科学总论];

学科分类号：

07 ; 0710 ; 09 ;

摘要：

引用

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页码：979 / &

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共 3 条

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