An x-ray spectrometer, with which wave lengths are read directly on an ordinary micrometer screw

被引：1

作者：

Nicholas, WW ^{[1
]}

机构：

[1] Stanford Univ, Dept Phys, Stanford, CA USA

来源：

JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA AND REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1926年 / 12卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1364/JOSA.12.000045

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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