SIMPLE WAY OF UNDERSTANDING SOME EXACT RESULTS ON CRITICAL PHENOMENA IN NONHOMOGENEOUS AND FINITE ISING SYSTEMS .3. STATISTICALLY LAYERED SYSTEMS

被引：14

作者：

DECKER, I

HAHN, H

机构：

来源：

PHYSICA A | 1978年 / 93卷 / 1-2期

关键词：

D O I：

10.1016/0378-4371(78)90218-2

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：215 / 243

页数：29

共 16 条

[1] 2-DIMENSIONAL ISING MODEL WITH RANDOM IMPURITIES [J].

BAROUCH, E .

BECKER, F ;

HAHN, H .

DECKER, I ;

HAHN, H .

PHYSICA A, 1977, 89 (01) :37-56

[4]

DECKER I, 1978, THESIS TU

[5]

DECKER I, 1976, PHYSICA A, V83, P143

[6]

FERRELL RA, 1973, J STAT PHYS, V8, P265

[7]

FISHER ME, 1969, J PHYS SOC JPN, VS 26, P87

[8]

Grosskreutz J.C., 1975, CONSTITUTIVE EQUATIO

[9]

Kadanoff L.P., 1966, PHYSICS, V2, P263, DOI [DOI 10.1103/PHYSICSPHYSIQUEFIZIKA.2.263, 10.1103/PhysicsPhysiqueFizika.2.263]

[10]

Ma S., 1976, THEORY CRITICAL PHEN