SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY IN THE BACKSCATTERED ELECTRON IMAGING (BEI) MODE - APPLICATIONS TO CLINICAL HEMATOLOGY

被引：10

作者：

DEHARVEN, E

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.3109/01913128709048458

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：711 / 721

页数：11

共 39 条

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