STRESS MEASURABLE TENSILE DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION

被引：11

作者：

SAKA, H

IMURA, T

YUKAWA, N

IGARASHI, I

机构：

来源：

JOURNAL OF THE PHYSICAL SOCIETY OF JAPAN | 1968年 / 25卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1143/JPSJ.25.906

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：906 / &

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共 2 条

[1] HIRSCH PB, 1965, ELECTRON MICROSCOPY, P79
[2] TAKAHASHI N, 1960, J ELECTRON MICROSC, V9, P104