共 1 条
- [1] QUANTITATIVE ELECTRON-PROBE MICROANALYSIS OF THIN-FILMS[J]. TRANSACTIONS OF THE JAPAN INSTITUTE OF METALS, 1975, 16 (11): : 697 - 701ODA, YNAKAJIMA, K
NONSTOICHIOMETRY OF MOS2 PHASE PREPARED BY SPUTTERING
被引：17
作者：
ITO, T
NAKAJIMA, K
机构：
来源：
PHILOSOPHICAL MAGAZINE B-PHYSICS OF CONDENSED MATTER STATISTICAL MECHANICS ELECTRONIC OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES
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1978年
/
37卷
/
06期
关键词：
D O I：
10.1080/01418637808225655
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
引用
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页码：773 / 775
页数：3
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