共 1 条
AN INSTRUMENT FOR MEASURING PARTICLE DIAMETERS AND CONSTRUCTING HISTOGRAMS FROM ELECTRON MICROGRAPHS
被引:4
作者:
HANSON, EE
DANIEL, JH
机构:
关键词:
D O I:
10.1063/1.1697673
中图分类号:
O59 [应用物理学];
学科分类号:
摘要:
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页码:439 / 443
页数:5
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