OPTIMUM DEMONSTRATION TESTS WITH GROUPED INSPECTION DATA FROM AN EXPONENTIAL-DISTRIBUTION

被引：26

作者：

NELSON, W ^{[1
]}

机构：

[1] GE,RES & DEV,SCHENECTADY,NY 12345

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY | 1977年 / 26卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/TR.1977.5220123

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：226 / 231

页数：6

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共 3 条

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