MACRO TESTING - UNIFYING IC AND BOARD TEST

被引：13

作者：

BEENKER, FPM ^{[1
]}

VANEERDEWIJK, KJE ^{[1
]}

GERRITSEN, RBW ^{[1
]}

PEACOCK, FN ^{[1
]}

VANDERSTAR, M ^{[1
]}

机构：

[1] PHILIPS TELECOMMUN & DATA SYST,1200 JD HILVERSUM,NETHERLANDS

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1986年 / 3卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/MDT.1986.295048

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：26 / 32

页数：7

共 12 条

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