THICKNESS DEPENDENCE OF THE REFRACTIVE-INDEX OF THIN YTTERBIUM OXIDE LAYERS ON CHROMIUM

被引：4

作者：

ZUKOWSKA, K

IDCZAK, E

机构：

来源：

THIN SOLID FILMS | 1981年 / 85卷 / 3-4期

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(81)90144-9

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：327 / 330

页数：4

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共 3 条

[1]

IDCZAK E, 1980, OPT APPL, V10, P83

[2]

IDCZAK E, 1978, OPT APPL, V7, P55

[3]

SHKLYAREVSKII JN, 1967, OPT SPEKTROSK, V23, P147