HIGH SPATIAL-RESOLUTION SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY WITH PARALLEL DETECTION SYSTEM

被引:27
作者
NIHEI, Y [1 ]
SATOH, H [1 ]
TATSUZAWA, S [1 ]
OWARI, M [1 ]
ATAKA, M [1 ]
AIHARA, R [1 ]
AZUMA, K [1 ]
KAMMEI, Y [1 ]
机构
[1] JEOL LTD,TOKYO 196,JAPAN
来源
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS | 1987年 / 5卷 / 04期
关键词
D O I
10.1116/1.574784
中图分类号
TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
摘要
引用
收藏
页码:1254 / 1257
页数:4
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共 3 条
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