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ION-SCATTERING SPECTROMETRY AND SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY IN THE SURFACE CHARACTERIZATION OF SMUT ON STAINLESS-STEEL
被引：7
作者：
BAUN, WL
机构：
来源：
SURFACE TECHNOLOGY
|
1980年
/
11卷
/
06期
关键词：
D O I：
10.1016/0376-4583(80)90099-0
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：385 / 391
页数：7
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