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INFLUENCE OF TOPOGRAPHY OF A SAMPLE IN ION-INDUCED X-RAY-EMISSION ANALYSIS
被引：3
作者：
SCHIEKEL, M
[1
]
机构：
[1] TECH UNIV DRESDEN,SEKT PHYS,AG ISOTOPENTECH,DDR-8027 DRESDEN,GER DEM REP
来源：
ISOTOPENPRAXIS
|
1977年
/
13卷
/
04期
关键词：
D O I：
10.1080/10256017708544013
中图分类号：
O61 [无机化学];
学科分类号：
070301 ;
081704 ;
摘要：
引用
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页码：133 / 135
页数：3
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