MILLIMETRE-WAVE ACTIVE PROBE FREQUENCY-MULTIPLIER FOR ON-WAFER CHARACTERIZATION OF GAAS DEVICES AND ICS

被引：5

作者：

MAJIDIAHY, R

BLOOM, DM

机构：

来源：

ELECTRONICS LETTERS | 1989年 / 25卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1049/el:19890005

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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