BEAM PROFILE ANALYSIS FOR A CF-252 PLASMA-DESORPTION TIME-OF-FLIGHT MASS-SPECTROMETER

被引：12

作者：

DANIGEL, H ^{[1
]}

MACFARLANE, RD ^{[1
]}

机构：

[1] TEXAS A&M UNIV,DEPT CHEM,COLLEGE STN,TX 77843

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES | 1981年 / 39卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0020-7381(81)80030-7

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学]; O56 [分子物理学、原子物理学];

学科分类号：

070203 ; 070304 ; 081704 ; 1406 ;

摘要：

引用

页码：157 / 166

页数：10

共 6 条

FURSTENAU, N ;

KNIPPELBERG, W ;

KRUEGER, FR ;

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