THE X-RAY-CALIBRATION OF SILICON P-I-N-DIODES BETWEEN 1.5 AND 17.4 KEV

被引：16

作者：

CORALLO, DM

CREEK, DM

MURRAY, GM

机构：

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1980年 / 13卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/13/6/008

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：623 / 626

页数：4

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共 6 条

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