POSSIBILITY FOR DETERMINATION OF MICROSCOPIC MOBILITY OF CARRIERS IN SEMICONDUCTORS UNDER SCLC CONDITIONS

被引:2
作者
FILLARD, JP
LECOY, G
SAVELLI, M
机构
关键词
D O I
10.1016/0038-1101(71)90183-3
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:371 / &
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