MODIFICATION OF GUNN INSTABILITIES IN COPLANAR DIODES BY VARIATION OF CONTACT DEPTH

被引：1

作者：

BOCCONGIBOD, D

TESZNER, JL

MAUTREF, M

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1049/el:19720086

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：119 / +

页数：1

共 6 条

BOCCONGI.D ;

TESZNER, JL .

BOCCONGI.D ;

TESZNER, JL .

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