LOW-ENERGY ELECTRON-DIFFRACTION TECHNIQUE FOR ACCURATE ABSOLUTE DETERMINATION OF SURFACE LATTICE-CONSTANTS

被引：8

作者：

EKELUND, S ^{[1
]}

LEYGRAF, C ^{[1
]}

机构：

[1] ROY INST TECHNOL,DIV PHYS CHEM,STOCKHOLM 70,SWEDEN

来源：

VACUUM | 1972年 / 22卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1016/0042-207X(72)90227-8

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：489 / 491

页数：3

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[3] KIENDL H, 1967, Z NATURFORSCH PT A, VA 22, P79